Roger Lakoski e representante da Siemens participam da palestra “Visão Computacional no Controle de Qualidade” no dia 26 de agosto, às 14h, no Stand Senai, durante a Expo + Indústria 2026. O encontro é voltado a profissionais de qualidade, produção, automação, engenharia e tecnologia interessados em compreender como câmeras, sensores e sistemas de análise de imagem podem ser aplicados à inspeção de produtos e processos industriais.

Em muitas operações, o controle de qualidade ainda depende fortemente de inspeções manuais. Esse modelo pode ser adequado em determinadas situações, mas tende a enfrentar limitações quando o volume aumenta, o ritmo de produção acelera ou os critérios de avaliação exigem repetibilidade e precisão constantes.

A visão computacional amplia essa capacidade ao permitir que sistemas identifiquem características visuais, comparem padrões e sinalizem possíveis não conformidades durante o processo. Dependendo da aplicação, a tecnologia pode apoiar verificações de presença, posição, acabamento, dimensões, montagem e outros critérios definidos pela própria operação.

Para a indústria, o tema se conecta diretamente a automação industrial, análise de dados, integração de sistemas, monitoramento de performance e controle de qualidade. Quando a inspeção visual passa a gerar dados estruturados, a empresa também ganha melhores condições para identificar recorrências, localizar causas de falhas e atuar de forma mais preventiva.

A palestra oferece uma oportunidade para entender onde a visão computacional pode gerar valor real, quais tipos de processos são mais aderentes à tecnologia e como integrar inspeção, automação e qualidade em uma mesma estratégia de produtividade.

Data: 26 de agosto de 2026
Horário: 14h
Local: Stand Senai
Palestrantes: Roger Lakoski e representante da Siemens